前進矽谷特別報導

互連架構/驗證技術翻新 SoC設計效率/良率俱增

作者: 柯凱林
2015 年 12 月 03 日
系統單晶片(SoC)開發可望又快又好。矽智財(IP)開發商與電子設計自動化(EDA)業者所研發的新一代晶片互連架構與功能驗證技術,可有效解決現今系統單晶片設計日益複雜所導致的互連頻寬不足和驗證速度過慢等問題,大幅縮短SoC研發時程並提高整體設計良率。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

明導國際深耕亞太市場 致力與客戶建立長期合作關係

2006 年 10 月 30 日

CE產品效能提升 32位元微控制器市場一日千里

2008 年 01 月 31 日

智慧升級 資通訊科技開創能源管理商機

2009 年 09 月 27 日

專訪是德科技資深副總裁Guy Senee 4G引爆量測儀器銷量激增

2014 年 11 月 06 日

專訪索思未來戰略銷售組銷售部銷售專案總監張育豪 交換器IC克服核心叢集通訊瓶頸

2017 年 07 月 23 日

「贏向」AIoT時代大商機 RISC-V產業鏈力推共享/共榮

2019 年 08 月 26 日
前一篇
克服工業物聯網挑戰 NI力推開放式標準平台
下一篇
Digi-Key出貨包裹量達五千萬里程碑